G. Hopfenmueller¹, T.Weiss¹, B. Barton², P. Sperfeld², S. Nowy², S. Pape², D. Friedrich², S. Winter², A. Towara², A. Hoepe², S. Teichert²,
¹sglux GmbH, Berlin, Germany, ²Physikalisch-Technische Bundesanstalt Braunschweig und Berlin (PTB), 4.1 Photometry and Applied Radiometry, Braunschweig, Germany